亞微米粒徑檢測儀為實驗室研究提供更好的分析技術

　　亞微米粒徑檢測儀為實驗室研究提供更好的分析技術

　　亞微米粒徑檢測儀是納米粒徑分析儀器，采用現在的動態光散射原理，利用的Nicomp多峰算法可以很的分析比較復雜多組分混合樣品。亞微米粒徑檢測儀為實驗室的研究提供的分析技術。 測試范圍：0.3 nm – 10μm。

　　一、亞微米粒徑檢測儀產品介紹：

　　380 N3000 亞微米粒徑檢測儀采用動態光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3 nm- 10μm。粒度分析復合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術的 Nicomp 多峰算法，亞微米粒徑檢測儀對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有*優勢，其的解析度及重現性是其他同類產品*的。

　　二、亞微米粒徑檢測儀工作原理：

　　動態光散射法(DLS)，有時稱為準彈性光散射法（QELS），亞微米粒徑檢測儀是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用技術，粒度可小于1nm。 動態光散射法的典型應用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動，造成散射光光強的波動。亞微米粒徑檢測儀分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。