單顆粒計(jì)數(shù)器大有東山再起之勢(shì)

    單顆粒計(jì)數(shù)器激光粒度測(cè)試技術(shù)更加成熟，激光衍射/散射技術(shù)，現(xiàn)在已經(jīng)成為顆粒測(cè)試的主流。

    單顆粒計(jì)數(shù)器測(cè)試速 度快，重復(fù)性好，分辨率高，測(cè)試范圍廣得到了進(jìn)一步的發(fā)揮。單顆粒計(jì)數(shù)器技術(shù)近幾年的主要進(jìn)展在于提高分辨率和擴(kuò)大測(cè)量范圍，探測(cè)器尺寸增加，附加探頭的使用擴(kuò)大了測(cè)量范圍；多種激光光源的使用、多鏡頭、會(huì)聚光路、多量程、可移動(dòng)樣品窗的使用提高了分辨率，采樣速度的提高則進(jìn)一步改善了儀器的重復(fù)性。

    單顆粒計(jì)數(shù)器對(duì)于不同樣品選用不同的分散劑和不同的分散操作應(yīng)該引起測(cè)試者的注意，儀器測(cè)試范圍都不是可以無限擴(kuò)展的。靜態(tài)光散射原理的單顆粒計(jì)數(shù)器向納米顆粒的擴(kuò)展和向毫米方向的擴(kuò)展極限值得探討，毫米級(jí)的顆粒只需光學(xué)成像技術(shù)就可以輕易解決的測(cè)量問題采用激光散射原理則并不是優(yōu)勢(shì)所在。

    單顆粒計(jì)數(shù)器分析技術(shù)是一種傳統(tǒng)的顆粒測(cè)試技術(shù)，由于樣品制備操作較繁瑣、代表性差、曾經(jīng)作為一種輔助手段而存在，他的直觀的特點(diǎn)沒有發(fā)揮出來。為了解決采樣代表性問題，有人使用圖像拼接技術(shù)或者多幅圖像數(shù)據(jù)累加技術(shù)可以有效提高分析粒子數(shù)量，采用標(biāo)準(zhǔn)分析處理模式的圖像儀則可以將操作誤差減小，這些改進(jìn)取得了一 定的效果。 

     近幾年動(dòng)態(tài)圖像處理技術(shù)的出現(xiàn)使傳統(tǒng)度顆粒圖像分析儀備受關(guān)注，大有東山再起之勢(shì)，動(dòng)態(tài)圖像處理的核心是采用顆粒同步頻閃捕捉技術(shù)，拍攝運(yùn)動(dòng)顆粒圖像，因此減少了載玻片上樣品制備的繁瑣操作，提高了采樣 的代表性，而且可用于運(yùn)動(dòng)顆粒在線測(cè)量. 這就大大擴(kuò)展了圖像分析技術(shù)的應(yīng)用范圍和可操作性，單顆粒計(jì)數(shù)器是有代表性的產(chǎn)品。