光阻法的原理及應用該技術的產品特點

    光阻法是測量顆粒粒徑的一種方法，同時也可以測量粒子濃度。光阻法適用于nm級的粒子粒徑測量，粒子濃度不宜太大，因為主要是利用光子的單次散射，彈性散射效應，粒子濃度太大，光子穿過介質傳播時，不免發生多次散射，從而造成測量的不。不過對于粒子濃度較大的情況，我們也有解決方法，例如在激光接收器前放置一面透鏡，使得透鏡的焦點剛好在接收器的位置，這樣主要是使得只有平行光進入接收器，即只接收到單次散射光子，而多次散射的光子因為散射效應而偏離了光軸中心，不能被接收器接收到，我們需要的就是這個結果，這樣誤差便能減小了。同時還可以減小接收器的接收面積，只接收光軸中心的光子，同樣也能達到減小誤差的效果。

    AccuSizer 780 光阻法顆粒計數器是運用光阻法單顆粒光學傳感技術（SPOS）對粒子樣本進行粒徑測試并計數，一次檢測一個粒子，來構建真正的粒徑分布。運用 SPOS 技術與激光衍射和沉降法所得到的粒徑統計學分布數據形成了鮮明對比，SPOS 技術能夠在測量粒徑的同時收集顆粒數目信息，對顆粒進行的計數。

    與經典的電阻法相比，AccuSizer780 系列儀器所得到的粒徑分布具有更高的分辨率和性。AccuSizer 780 系列儀器不會錯過任何“尾部”大顆粒，而這往往決定著被測樣品的合格與否。